IE200M地质矿物分析精密工程测量显微镜
IE200M地质矿物分析精密工程测量显微镜
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IE200M地质矿物分析精密工程测量显微镜

IE200M地质矿物分析精密工程测量显微镜

IE200M倒置金相显微镜操作简便,附件齐全,广泛应用于教学科研金相分析、半导体硅晶片检测、地质矿物分析、精密工程测量等领域。

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操作简便,附件齐全,广泛应用于教学科研金相分析、半导体硅晶片检测、地址矿物分析、精密工程测量等领域。

高精度粗微动调焦机构

采用底手位粗微调同轴调焦机构,左右侧均可调节,微调精度高,手动调节简单方便,用户能够轻松得到清晰舒适的图像。粗调行程为38mm,微调精度0.002。

IE200M倒置金相显微镜
高精度粗微动调焦机构

大尺寸机械移动平台

采用180×155mm的大尺寸平台,右手位设置,符合常规人群操作习惯。用户操作过程中,便于调焦机构与平台移动的操作切换,为用户提供更加高效的工作环境。

IE200M倒置金相显微镜
大尺寸机械移动平台

落射柯拉照明系统

采用180×155mm的大尺寸平台,右手位设置,符合常规人群操作习惯。用户操作过程中,便于调焦机构与平台移动的操作切换,为用户提供更加高效的工作环境。

IE200M倒置金相显微镜
落射柯拉照明系统

技术参数

光学系统

有限远色差光学系统

观察筒

45°倾斜,三目观察筒,瞳距调节范围:54-75mm,分光比:80:20

目镜

高眼点大视野平场目镜PL10X/18mm,可带测微尺

高眼点大视野目镜WF15X/13mm,可带测微尺
高眼点大视野目镜WF20X/10mm,可带测微尺

物镜

长工作距平场消色差金相物镜(5X、10X、20X、50X 、100X)

转换器

内定位四孔转换器

内定位五孔转换器

调焦机构

低手位粗微调同轴调焦机构,粗动每转行程38 mm;微调精度0.02mm

载物台

三层机械移动平台,面积180mmX155mm,右手低手位控制,行程:75mm×40mm

落射照明系统

落射式柯拉照明系统,带可变孔径光栏和中心可调视场光栏,自适应宽电压100V-240V,单颗5W 暖色LED灯,光强连续可调

落射式柯拉照明系统,带可变孔径光栏和中心可调视场光栏,自适应宽电压100V-240V,6V30W卤素灯,光强连续可调

摄影摄像

0.5X/1X摄像接筒,C型接口,可调焦

其他

起偏镜插板,固定式检偏镜插板,360°旋转式检偏镜插板;滤色片组;高精度测微尺