舜宇光学

MX8R微分干涉工业检测显微镜


技术参数

显微镜参数:

序号

名称

技术参数

01

平场目镜

高眼点大视野平场目镜PL10X/22mm,视度可调

02

金相物镜

明暗场半复消金相物镜5X,WD=13.5mm,NA=0.15

明暗场半复消金相物镜10X,WD=9.0mm,NA=0.30

超长工作距明暗场半复消金相物镜20X,WD=8.5mm,NA=0.4

无限远长工作距明暗场半复消金相物镜50X,WD=1.0mm NA=0.8

03

总放大倍数

50X-500X

04

观察头

5°-35°倾角可调,正像,无限远铰链三通观察头,瞳距调节50-76mm,视度可调:±5屈光度,两档分光比:100/0或0/100

06

调焦机构

反射机架,前置低手位粗微调同轴调焦机构,粗调每转行程:33mm,微调精度:0.001mm,带有防止下滑的调节松紧装置和随机上限位装置。

07

移动平台

8英寸三层机械移动平台,低手位X\Y方向同轴调节,平台面积525mmX330mm,移动范围:210mmX210mm,带离合器手柄,可用于全行程范围内快速移动,玻璃载物台

08

偏光附件

检偏镜可360度旋转,起偏镜和检偏镜均可移出光路

09

摄像接口

0.5X摄像接口,C型接口

10

微分干涉

DIC微分干涉组件

11

照明系统

宽电压100V~240V,12V100W卤素灯落射光照明系统,带视场光阑与孔径光阑,中心可调。

产品简介:

MX8R三目明暗场微分干涉工业检测显微镜配置了落射与透射照明系统、明暗场半复消金相物镜、内置偏光观察装置,具有图像清晰、衬度好,造型美观,操作方便等特点,配备了高性能DIC组件,可以将明场观察下无法检测的细微高低差,转化为高对比度的明暗差并以立体浮雕新式表现出来,广泛用于LCD导电粒子,精密磁盘表面划痕检测等领域

产品性能特点:

  1. 具有明场,暗场,偏光,DIC 观察功能
  2. 采用8英寸大平台设计,可适用于相应尺寸的晶圆或FPD检测,电路封装,电路基板,材料,铸件金属陶瓷部件,精密模具的检测。