正置金相显微镜和倒置金相显微镜具备相同的基本功能,除了对20-30mm高度的金属试样作分析鉴定外,因为符合人的日常习惯,因此更广泛的应用于透明半透明不透明物质的观察。

正置金相显微镜在观察时成像为正像,这对使用者的观察与辨别带来了极大的方便。除了对20-30mm高度的金属试样作分析鉴定外,大于3微米小于20微米观察目标,比如金属陶瓷、电子芯片、印刷电路、LCD基板、薄膜、纤维、颗粒状物体、镀层等材料表面的结构、痕迹,都能有很好的成像效果。